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規格指標： 并口 Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統下工作 雙CPU工作，速度更快，效率更高。 功能測試40×2通道 VI曲線測試40×2通道 雙測試夾VI曲線測試 網絡提取 程控加電 EPROM/RAM在線讀取 模擬器件 VI曲線測試 總線隔離信號 中文維修筆記 功能測試軟件設上拉電阻——集電極開路門的測試 功能測試外供電源——被測電路板可測試 功能測試具有三態識別能力——可測三態器件和IC負載能力下降故障 V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 V/I測試六個掃描頻率——V/I曲線測試 V/I測試三種測試電壓幅度——器件的V/I測試 集成電路在線功能測試 采用后驅動隔離，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及多種存儲器等集成電路。 1.直接顯示測試結果，確定可疑IC 2.顯示測試過程，測試激勵。預期和實際響應，幫助分析故障原因 3.查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。 集成電路在線狀態測試通過好壞板上相應IC的狀態進行比較，找出有故障的IC。 1.狀態學習：在線學習無故障IC的引腳關系，互連狀態和測試的激勵與響應，并存入數據庫中 2.狀態比較：同故障板上相應IC在線進行狀態比較，根據兩者差異判定IC好壞 3.狀態顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態資料。 集成電路離線功能測試 離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片 V/I曲線測試 通過好壞板上相應節點的動態阻抗圈的異同判定故障節點及故障IC 1.曲線學習：在線學習無故障板上節點的動態阻抗曲線（V/I曲線），并存入數據庫中 2.曲線比較：同故障板上相應節點的動態阻抗曲進行比較，根據差異大小及維修經驗判定與此節點相關的IC是否損壞 3.曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上節點的動態阻抗圖資料集成電路分析測試網絡提取測試使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系，；輔助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采用了四種模式： 1.探棒對探捧（“棒”—“棒”模式） 2.探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式） 3.測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式） 4.測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式） 開發編譯 1.TVED允許兩種建立測試圖形和方法； a在TVED圖形界面上直接建立； b.讀入DCL語言的編譯結果； 2.編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加以調整、修改； 3.四種測試方式；
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