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產品簡介: 數字式硅晶體載流子復合壽命測試儀是按照半導體設備和材料（MF28-0707、MF1535-0707）及GB/T1553的要求。采用高頻光電導衰減測量方法，適用于測量鑄造多晶和硅晶體載流子復合壽命。 規格參數： 少子壽命測量范圍：0.25μS-10ms 電阻率下限：≥0.3Ω·cm 測量型號：N型或P型單晶或鑄造多晶 光脈沖發生裝置 重復頻率：＞15次/S 脈寬范圍：≥10μs 紅外光源波長：1.06-1.08μm 脈沖電流：5A-16A 紅外光源短波長：0.904-0.905μm 脈沖電流：5A-16A 高頻源 頻率范圍：30MHz 輸出功率：＞1W 放大器、檢波器 頻率響應：2Hz-2MHz 放大倍數：約30倍 光源電極臺：測量低阻樣片用；可測縱向放置的單晶、測量豎放單晶橫截面的壽命。 電極背光燈：當光電導衰退波形出現陷阱效應時，開啟背光燈后曲線尾部逐漸下降，此時讀出的衰退時間接近壽命值。 讀數方式：可選配測試軟件或數字示波器讀數 測試軟件：具有自動保存數據及測試點衰減波形，可進行查詢歷史數據和導出歷史數據等操作。
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