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產品簡介: 高頻光電導少數載流子壽命測試儀是按照半導體設備和材料MF1535-0707及GB/T 26068的要求，采用高頻光電導衰減測量方法，適用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，硅單晶壽命測量ρ≥3Ω·cm。 規格參數 壽命測試范圍：5-10000μs 電阻率測量范圍：ρ≥3Ω·cm， 光脈沖發生裝置 重復頻率：＞25次/s 脈寬：≥60μs 光脈沖關斷時間＜1μs 紅外光源波長：1.06μm（測量硅單晶），如測量鍺單晶壽命需配適當波長的光源。 脈沖電源：5A-12A 高頻源 頻率范圍：30MHz 輸出功率＞1W 放大器、檢波器 頻率響應：2Hz-3MHz 讀數方式：可選配測試軟件或數字示波器讀數 測試軟件：具有自動保存數據及測試點衰減波形，可進行查詢歷史數據和導出歷史數據等操作。
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